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SuperView W微納米三維光學(xué)輪廓儀的復(fù)合型EPSI重建算法，解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動(dòng)拼接模塊下，只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn)，即可自動(dòng)掃描，重建其超光滑的表面區(qū)域，不見(jiàn)一絲重疊縫隙。

SJ5800大量程粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x滿(mǎn)足發(fā)動(dòng)機(jī)關(guān)鍵零部件的輪廓尺寸測(cè)量需求，如分別對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)關(guān)鍵零部件節(jié)溫器內(nèi)筒、氣門(mén)搖臂及凸輪軸進(jìn)行高精度輪廓參數(shù)檢測(cè)。

中圖儀器SuperViewW3D顯微粗糙度光學(xué)輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

SJ5800大曲面粗糙度輪廓儀一體機(jī)采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線(xiàn)度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，專(zhuān)業(yè)測(cè)試軸承內(nèi)外側(cè)。

納米材料表面3D光學(xué)輪廓儀通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，專(zhuān)用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。

SJ5800工件輪廓圓度粗糙度一體測(cè)量?jī)x采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線(xiàn)度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，可測(cè)形位公差：直線(xiàn)度、圓度、平行度、垂直度、同軸度、位置度、輪廓度等。