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SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉顯微鏡以白光干涉技術(shù)為原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。

SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能；自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等；以及自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能。是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。

3d白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

CHOTEST中圖儀器SuperViewW1三維白光干涉表面形貌儀集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺(tái)平移、Z向聚焦、找條紋等測(cè)量前工作。測(cè)量范圍可從納米級(jí)粗糙度到毫米級(jí)的表面形貌，可以快速獲取被測(cè)工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)，可用于成品質(zhì)量的管理，確保良品合格率。

chotest國產(chǎn)白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器，它以白光干涉技術(shù)原理，對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器，通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。

CHOTEST中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維輪廓儀通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌，是一款對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。